zapraszamy do sklepu internetowego

Podstawki testowe do układów scalonych w obudowach SOIC, SOP, TSOP, SSOP, PLCC

wejście do sklepu internetowego
.
(1kB)
(1kB)

(1kB)
(1kB)
Symbol Opis  
TEST3_SOIC8 Podstawka testowa SOIC8  
TEST3_SOIC16 Podstawka testowa SOIC16  
TEST3_SOIC20 Podstawka testowa SOIC20  
TEST3_SOIC28 Podstawka testowa SOIC28  
.
TEST3_SOP8 Podstawka testowa SOP8  
TEST3_SOP16 Podstawka testowa SOP16  
TEST3_SOP18 Podstawka testowa SOP16  
TEST3_SOP20 Podstawka testowa SOP20  
TEST3_SOP28 Podstawka testowa SOP28  
.
Podstawki testowe firmy 3M w obudowie SMD dwurzędowej; możliwość otwierania pokrywy ręcznie lub automatycznie; styki złocone; prąd znamionowy: 1A

Aktualne ceny i dostępność prosimy sprawdzać w naszym sklepie internetowym!
lub pytać e-mailem!

 

 SOIC16 (SO16)                                                   SOP16

 

                     

 
.
(1kB)
(1kB)

 

 (1kB)
(1kB)
symbol

opis

  
TEST1_SOP8A Podstawka testowa ZIF SOP8 [3.9 -5.4]  
TEST1_SOP8B Podstawka testowa ZIF SOP8 [5.0 -5.4]  
TEST1_SOP16A Podstawka testowa ZIF SOP16 [3.9 - 10.48]  
TEST1_SOP16B Podstawka testowa ZIF SOP16 [5.0 - 10.48]  
TEST1_SOP28A Podstawka testowa ZIF SOP28 [7.5 - 18.05]  
TEST1_SOP28B Podstawka testowa ZIF SOP28 [8.4 - 18.65]  
TEST1_SOP44 Podstawka testowa ZIF SOP44 [12.6 - 28.50]  
.

Podstawki testowe typu ZIF przeznaczone do układów w obudowach SOP W nawiasie kwadratowym podane są wymiary odpowiednio: [szerokość części plastikowej układu E1 i długość układu D]
- raster 1.27mm;
- zakres temperatur pracy od -40°C do +90°C
 

Aktualne ceny i dostępność prosimy sprawdzać w naszym sklepie internetowym!
lub pytać e-mailem!

.
(1kB)
(1kB) (1kB)
(1kB)

Aktualne ceny i dostępność prosimy sprawdzać w naszym sklepie internetowym!
lub pytać e-mailem!
symbol

opis

  
TEST1_TSOP32 Podstawka testowa ZIF TSOP32 [14 -8]  
TEST1_TSOP40 Podstawka testowa ZIF TSOP40 [20 -10]  
TEST1_TSOP48 Podstawka testowa ZIF TSOP48 [20 - 12]  
TEST1_TSOP56 Podstawka testowa ZIF TSOP56 [20 - 14]  
.

Podstawki testowe typu ZIF przeznaczone do układów w obudowach TSOP W nawiasie kwadratowym podane są wymiary odpowiednio: [szerokość układu E i długość układu E1];   raster 0.50mm; zakres temperatur pracy od -40°C do +90°C
 

.
(1kB)
(1kB)

 

 (1kB)
(1kB)

Aktualne ceny i dostępność prosimy sprawdzać w naszym sklepie internetowym!
lub pytać e-mailem!
symbol

opis

 

TEST4_TSOP32 Podstawka testowa ZIF TSOP32 [20 -8]  
TEST4_TSOP40 Podstawka testowa ZIF TSOP40 [14 -10]  
.

Podstawki testowe typu ZIF przeznaczone do układów w obudowach TSOP W nawiasie kwadratowym podane są wymiary odpowiednio: [szerokość układu E i długość układu E1];   raster 0.50mm; zakres temperatur pracy od -40°C do +90°C

Karta katalogowa (datasheet):
 

.
(1kB)
(1kB)

(1kB)
(1kB)

Aktualne ceny i dostępność prosimy sprawdzać w naszym sklepie internetowym!
lub pytać e-mailem!

 
symbol

opis

  
TEST2_SOP8A Podstawka testowa typu ZIF SOP8 [3.9 -6.0]  
TEST2_SOP8B Podstawka testowa typu ZIF SOP8 [4.4 -6.4]  
TEST2_SOP16A Podstawka testowa typu ZIF SOP16 [4.4 - 6.4]  
TEST2_SOP16B Podstawka testowa typu ZIF SOP16 [7.6 - 10.2]  
TEST2_SOP20 Podstawka testowa typu ZIF SOP20 [7.55 - 10.4]  
TEST2_SOP24 Podstawka testowa typu ZIF SOP24  
TEST2_SOP28 Podstawka testowa typu ZIF SOP28 [7.55 - 10.47]  
TEST2_SOP32 Podstawka testowa typu ZIF SOP32  
.

Podstawki testowe typu ZIF przeznaczone do układów w obudowach SOP W nawiasie kwadratowym podane są wymiary odpowiednio: [szerokość części plastikowej układu D - szerokość całkowita układu C]
- materiał: politermid (PEI); styki złocone; raster 1.27mm;
- klasa UL94 V-0; - rezystancja styków [przy 10mA]Ł 30 mW;
- zakres temperatur pracy od -40°C do +150°C
Karta katalogowa (datasheet):

.
(1kB)
(1kB)

 

 (1kB)
(1kB)

UWAGA! Dostępność i ceny w sklepie internetowym!
symbol

opis

 

TEST_SSOP20 Podstawka testowa typu ZIF SSOP20 [4.6 - 6.4]  
TEST_SSOP30 Podstawka testowa typu ZIF SSOP30 [5.8 - 7.6]  
.
TEST2_SSOP8 Podstawka testowa typu ZIF SSOP8 [4.6 - 6.4]  
TEST2_SSOP20 Podstawka testowa typu ZIF SSOP20 [5.8 - 7.6]  
.

Podstawki testowe typu ZIF przeznaczone do układów w obudowach SSOP:
- materiał: politermid (PEI); styki złocone; raster 0,65mm; W nawiasie kwadratowym podane są wymiary odpowiednio: [szerokość części plastikowej układu D- szerokość całkowita układu C]
- klasa UL94 V-0; - rezystancja styków [przy 10mA]Ł 30 mW;
- zakres temperatur pracy od -40°C do +150°C
Karta katalogowa (datasheet):

.
(1kB)
(1kB) (1kB)
(1kB)

Aktualne ceny i dostępność prosimy sprawdzać w naszym sklepie internetowym!
lub pytać e-mailem!

 
symbol

opis

 

TEST3_PLCC20 Podstawka testowa PLCC20  
TEST3_PLCC28 Podstawka testowa PLCC28  
TEST3_PLCC32 Podstawka testowa PLCC32  
TEST3_PLCC44 Podstawka testowa PLCC44  
TEST3_PLCC68 Podstawka testowa PLCC68  
TEST3_PLCC84 Podstawka testowa PLCC84  
TEST3_PLCC52 Podstawka testowa PLCC52  
.

Podstawki testowe układów w obudowie PLCC; właściwy docisk zapewnia dobry kontakt elektryczny styków podstawki z wyprowadzeniami badanego układu; solidna pokrywa z prowadnicą zapobiega odchyleniom badanego elementu; styki złocone; prąd znamionowy: 1A:
- materiał: politermid (PEI); styki złocone; raster 1.27mm;
- klasa UL94 V-0; - rezystancja styków [przy 10mA]Ł 30 mW
- zakres temperatur pracy od -40°C do +150°C
Karta katalogowa (datasheet):

 
.
(1kB)
(1kB)

(1kB)
(1kB)
Symbol Opis  
TEST2_PLCC20 Podstawka testowa typu ZIF PLCC20  
TEST2_PLCC32 Podstawka testowa typu ZIF PLCC32  
TEST2_PLCC44 Podstawka testowa typu ZIF PLCC44  
TEST2_PLCC52 Podstawka testowa typu ZIF PLCC52  
TEST2_PLCC68 Podstawka testowa typu ZIF PLCC68  
TEST2_PLCC84 Podstawka testowa typu ZIF PLCC84  
.

Podstawki testowe układów w obudowie PLCC; właściwy docisk zapewnia dobry kontakt elektryczny styków podstawki z wyprowadzeniami badanego układu; solidna pokrywa z prowadnicą zapobiega odchyleniom badanego elementu; styki złocone; prąd znamionowy: 1A

Aktualne ceny i dostępność prosimy sprawdzać w naszym sklepie internetowym!
lub pytać e-mailem!
.
zapraszamy do sklepu internetowego

Wszystkie ceny zawierają VAT
.